Комплекс автоматизированного дифракционного картирования для просвечивающей электронной микроскопии
- Авторы: Каратеев И.А.1, Овчаров А.В.1, Каратеева К.Г.1, Преснякова Н.Н.1, Камышинский Р.А.2
-
Учреждения:
- Национальный исследовательский центр “Курчатовский институт”
- Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова ФНИЦ “Кристаллография и фотоника” РАН
- Выпуск: Том 68, № 1 (2023)
- Страницы: 143-152
- Раздел: ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ
- URL: https://ruspoj.com/0023-4761/article/view/673576
- DOI: https://doi.org/10.31857/S0023476123010113
- EDN: https://elibrary.ru/DOOODF
- ID: 673576
Цитировать
Аннотация
Представлены результаты разработки программного комплекса для автоматизированного ориентационного картирования на основе дифракционных данных. Экспериментальный модуль комплекса отвечает за взаимодействие с микроскопом и получение дифракционных карт. Аналитический модуль в автоматическом режиме проводит обработку и расшифровку дифракционных картин, полученных с помощью просвечивающей электронной микроскопии. Анализ тестовых данных показал, что результаты расшифровки находятся в соответствии с модельными данными.
Ключевые слова
Об авторах
И. А. Каратеев
Национальный исследовательский центр “Курчатовский институт”
Email: iakarateev@gmail.com
Россия, Москва
А. В. Овчаров
Национальный исследовательский центр “Курчатовский институт”
Email: iakarateev@gmail.com
Россия, Москва
К. Г. Каратеева
Национальный исследовательский центр “Курчатовский институт”
Email: iakarateev@gmail.com
Россия, Москва
Н. Н. Преснякова
Национальный исследовательский центр “Курчатовский институт”
Email: iakarateev@gmail.com
Россия, Москва
Р. А. Камышинский
Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова ФНИЦ “Кристаллография и фотоника” РАН
Автор, ответственный за переписку.
Email: iakarateev@gmail.com
Россия, Москва
Список литературы
- Dethloff C., Gaganidze E., Aktaa J. // J. Nucl. Mater. 2014. V. 454. № 1–3. P. 323. https://doi.org/10.1016/j.jnucmat.2014.07.078
- Ho H., Zhu J., Kulovits A. et al. // J. Appl. Phys. 2014. V. 116. № 19. P. 193510. https://doi.org/10.1063/1.4902082
- Jesse S., Chi M., Belianinov A. et al. // Sci. Rep. 2016. V. 6. P. 26348. https://doi.org/10.1038/srep26348
- Adams B.L., Dingley D.J., Kunze K., Wright S.I. // Mater. Sci. Forum. 1994. V. 157–162. P. 31. https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.157-162.31
- Baek M.-S., Kim K.-S., Park T.-W. et al. // Mater. Sci. Eng. A. 2020. V. 785. P. 139375. https://doi.org/10.1016/j.msea.2020.139375
- Nowell M.M., Witt R.A., True B. // Microsc. Microanal. 2005. V. 11. № S02. P. 504. https://doi.org/10.1017/s143192760550672x
- Dingley D.J. // J. Microsc. 2004. V. 213. P. 214. https://doi.org/10.1111/j.0022-2720.2004.01321.x
- Bhattacharyya A., Eades J.A. // Scanning. 2009. V. 31. P. 114. https://doi.org/10.1002/sca.20150
- Wisniewski W., Rüssel C. // Scanning. 2016. V. 38. № 2. P. 164. https://doi.org/10.1002/sca.21251
- Nolze G., Hielscher R., Winkelmann A. // Cryst. Res. Technol. 2017. V. 52. № 1. P. 1600252. https://doi.org/10.1002/crat.201600252
- Sun H., Adhyaksa G.W.P., Garnett E.C. // Adv. Energy Mater. 2020. V. 10. P. 2000364. https://doi.org/10.1002/aenm.202000364
- Humphreys F.J. // Scr. Mater. 2004. V. 51. № 8. P. 771. https://doi.org/10.1016/j.scriptamat.2004.05.016
- Migunov V., Ryll H., Zhuge X. et al. // Sci. Rep. 2015. V. 5. P. 14516. https://doi.org/10.1038/srep14516
- Kodjikian S., Klein H. // Ultramicroscopy. 2019. V. 200. P. 12. https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2019.02.010
- Ward M.R., Boyes E.D., Gai P.L. // J. Phys. Conf. Ser. 2014. V. 522. P. 012068. https://doi.org/10.1088/1742-6596/522/1/012068
- Williams D.B., Carter C.B. Transmission electron microscopy. 2nd ed. Boston, MA: Springer US, 2009. 775 p. https://doi.org/10.1007/978-0-387-76501-3
- Avilov A., Kuligin K., Nicolopoulos S. et al. // Ultramicroscopy. 2007. V. 107. № 6–7. P. 431. https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2006.09.006
- Ciston J., Deng B. Marks L.D. et al. // Ultramicroscopy. 2008. V. 108. № 6. P. 514. https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2007.08.004
- Каратеев И.А. Программа для ЭВМ “Программный модуль чтения и записи дифракционных карт формата cdmˮ: А.с. 2022611590. Правообладатель ФГБУ НИЦ “Курчатовский институтˮ. № 2022610617; заявл. 19.01.2022; опубл. 27.01.2022, бюл. № 2. 0.035 Мб.
- Каратеев И.А. программа для ЭВМ “Программа межмодульного трансфера кристаллографической информации формата .cif”: А. с. 2019664803. Правообладатель ФГБУ НИЦ “Курчатовский институт”. № 2019663532; заявл. 29.10.2019; опубл. 13.11.2019, бюл. № 11. 0.018 Мб.
- Каратеев И.А. Программа для ЭВМ “Модуль визуализации трехмерной структуры кристалла”: А. с. 2020613147. Правообладатель ФГБУ НИЦ “Курчатовский институт”. № 2020612059; заявл. 27.02.2020; опубл. 11.03.2020, бюл. № 3. 0.035 Мб.
- Каратеев И.А. Программа для ЭВМ “Программный модуль расчета картин электронной дифракции в кинематическом приближении”: А. с. 2021611215. Правообладатель ФГБУ НИЦ “Курчатовский институт”. № 2020668052; заявл. 30.12.2020; опубл. 25.01.2021, бюл. № 2. 0.029 Мб.
- Каратеев И.А. Программа для ЭВМ “Программный модуль считывания и записи файлов формата ser”: А. с. 2021611214. Правообладатель ФГБУ НИЦ “Курчатовский институт”. № 2020668050; заявл. 30.12.2020; опубл. 25.01.2021, бюл. № 2. 0.066 Мб.
- Каратеев И.А. Программа для ЭВМ “Программный модуль считывания и визуализации дифракционных карт”: А. с. 2021611216. Правообладатель ФГБУ НИЦ “Курчатовский институт”. № 2020668048; заявл. 30.12.2020; опубл. 25.01.2021, бюл. № 2. 0.032 Мб.
- Каратеев И.А. Программа для ЭВМ “Программный модуль расшифровки дифракционных карт”: А. с. 2022611673. Правообладатель ФГБУ НИЦ “Курчатовский институт”. № 2022610586; заявл. 19.01.2022; опубл. 31.01.2022, бюл. № 2. 0.041 Мб.
- Каратеев И.А. Программа для ЭВМ “Программный модуль поиска и численного описания дифракционных пиков на картинах электронной дифракции”: А. с. 2022611591. Правообладатель ФГБУ НИЦ “Курчатовский институт”. № 2022610619; заявл. 19.01.2022; опубл. 27.01.2022, бюл. № 2. 0.052 Мб.
Дополнительные файлы
