Информация об авторе
Сироткин, В. В.
| Выпуск | Раздел | Название | Файл |
| Том 52, № 5 (2023) | МОДЕЛИРОВАНИЕ | Компьютерное исследование влияния неоднородностей высокоомного слоя на резистивные переключения в структуре на основе микрокристалла селенида висмута |
Пользователь
Уведомления
Информация
Подписка
Войти в систему, чтобы проверить подписку
Ключевые слова
атомы фтора
диссоциация
зарядовый кубит
интенсивность излучения
ионизация
квантовая точка
кинетика
кремний
мемристор
механизм
моделирование
молекулярно-лучевая эпитаксия
наноэлектроника
плазма
полимеризация
приведенная напряженность электрического поля
температура газа
тетрафторметан
травление
удельная мощность
эффект Ферстера
×
Пользователь
Уведомления
Информация
Подписка
Войти в систему, чтобы проверить подписку
Ключевые слова
атомы фтора
диссоциация
зарядовый кубит
интенсивность излучения
ионизация
квантовая точка
кинетика
кремний
мемристор
механизм
моделирование
молекулярно-лучевая эпитаксия
наноэлектроника
плазма
полимеризация
приведенная напряженность электрического поля
температура газа
тетрафторметан
травление
удельная мощность
эффект Ферстера