VLIYaNIE OBLUChENIYa IONAMI Xe S ENERGIEY 167 MEV NA SVERKhPROVODYaShchIE SVOYSTVA VTSP-LENT VTOROGO POKOLENIYa

Cover Page
  • Authors: Degtyarenko P.N.1,2, Skuratov V.A.3, Vasil'ev A.L.4,5, Ovcharov A.V.4, Petrzhik A.M.2,6, Semina V.K.3, Gavrilkin C.Y.7, Novikov M.S.3, Malyavina A.Y.8, Amelichev V.A.2, Tsvetkov A.Y.7
  • Affiliations:
    1. Объединенный институт высоких температур Российской академии наук
    2. ООО "С-Инновации"
    3. Объединенный институт ядерных исследований
    4. Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт"
    5. Московский физико-технический институт (национальный исследовательский университет)
    6. Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук
    7. Физический институт им. П.Н. Лебедева Российской академии наук
    8. Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ"
  • Issue: Vol 165, No 6 (2024)
  • Pages: 827-832
  • Section: Articles
  • URL: https://ruspoj.com/0044-4510/article/view/653700
  • DOI: https://doi.org/10.31857/S0044451024060099
  • ID: 653700

Cite item

Full Text

Open Access Open Access
Restricted Access Access granted
Restricted Access Subscription Access

Abstract

Проведены систематические исследования ВТСП-лент второго поколения, облученных высокоэнергетичными ионами Xe с энергией 167 МэВ и флюенсами до 1 ・ 1012 см-2. Определено оптимальное значение флюенса (количества частиц, прошедших через 1 см2 поверхности образца) для получения максимального критического тока при различных температурах и внешних магнитных полях. Увеличение внешнего магнитного поля приводит к смещению пика критического тока в сторону больших значений флюенсов во всем диапазоне температур. Приводятся результаты микроструктурных исследований методами просвечивающей/растровой электронной микроскопии и рентгеновской дифракции. Показано, что в результате облучения образуются ионные треки диаметром порядка 5–8 нм, выступающие в роли эффективных центров пиннинга. Рентгеноструктурный анализ свидетельствует о снижении остроты текстуры под воздействием облучения.

About the authors

P. N. Degtyarenko

Объединенный институт высоких температур Российской академии наук; ООО "С-Инновации"

Email: degtyarenkopn@gmail.com
Москва, Россия; Москва, Россия

V. A. Skuratov

Объединенный институт ядерных исследований

Email: skuratov@jinr.ru
Дубна, Московская обл., Россия

A. L. Vasil'ev

Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт"; Московский физико-технический институт (национальный исследовательский университет)

Москва, Россия; Долгопрудный, Московская обл., Россия

A. V. Ovcharov

Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт"

Email: ovcharov.91@gmail.com
Москва, Россия

A. M. Petrzhik

ООО "С-Инновации"; Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук

Email: a.petrzhik@s-innovations.ru
Москва, Россия; Москва, Россия

V. K. Semina

Объединенный институт ядерных исследований

Дубна, Московская обл., Россия

C. Yu. Gavrilkin

Физический институт им. П.Н. Лебедева Российской академии наук

Email: gavrs@sci.lebedev.ru
Москва, Россия

M. S. Novikov

Объединенный институт ядерных исследований

Email: msnovikov@jinr.ru
Дубна, Московская обл., Россия

A. Yu. Malyavina

Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ"

Email: ayu.malyavina@gmail.com
Москва, Россия

V. A. Amelichev

ООО "С-Инновации"

Москва, Россия

A. Yu. Tsvetkov

Физический институт им. П.Н. Лебедева Российской академии наук

Москва, Россия

References

  1. A. Markelov, A. Valikov, V. Chepikov, A. Petrzhik, B. Massalimov, P. Degtyarenko, R. Uzkih, A. Soldatenko, A. Molodyk, K. Sim, and S. Hwang, Prog. Supercond. Cryog. 21, 29 (2019).
  2. A. Malozemoff, Annu. Rev. Mater. Res. 42, 373 (2012).
  3. A. Abrikosov, J. Phys. Chem. Solids 2, 199 (1957).
  4. G. Blatter, M. Feigel’man, V. Geshkenbein, A. Larkin, and V. Vinokur, Rev. Mod. Phys. 66, 1125 (1994).
  5. V. Selvamanickam, G. Carota, M. Funk, N. Vo, and P. Haldar, IEEE Trans. Appl. Supercond. 11, 3379 (2001).
  6. A. Catana, R. Broom, J. Bednorz, J. Mannhart, and D. Schlom, Appl. Phys. Lett. 60 1016 (1992).
  7. J. MacManus-Driscoll, S. Foltyn, Q. Jia, H. Wang, A. Serquis, B. Maiorov, L. Civale, Y. Lin, M. Hawley, M. Maley, and D. Peterson, Appl. Phys. Lett. 84, 5329 (2004).
  8. N. Strickland, S. Wimbush, J. Kennedy, M. Ridgway, E. Talantsev, and N. Long, IEEE Trans. Appl. Supercond. 25, 1 (2015).
  9. A. Erb, E. Walker, and R. Fl¨ukiger, Physica C Supercond. 258, 9 (1996).
  10. C. Varanasi, P. Barnes, J. Burke, L. Brunke, I. Maartense, T. Haugan, E. Stinzianni, K. Dunn, and P. Haldar, Supercond. Sci. Technol. 19, 37 (2006).
  11. A. Molodyk, S. Samoilenkov, A. Markelov, P. Degtyarenko, S. Lee, V. Petrykin, M. Gaifullin, A. Mankevich, A. Vavilov, B. Sorbom, J. Cheng, S. Garberg, L. Kesler, Z. Hartwig, S. Gavrilkin, A. Tsvetkov, T. Okada, S. Awaji, D. Abraimov, A. Francis, G. Bradford, D. Larbalestier, C. Senatore, M. Bonura, A. Pantoja, S. Wimbush, N. Strickland, and A. Vasiliev, Sci Rep. 11, 2084 (2021).
  12. E. Suvorova, P. Degtyarenko, I. Karateev, A. Ovcharov, A. Vasiliev, V. Skuratov, and P. Buffat, J. Appl. Phys. 126, 145106 (2019).
  13. E. Suvorova, P. Degtyarenko, A. Ovcharov, and A. Vasiliev, J. Surf. Investig. 16, 112 (2022).
  14. C. Bean, Phys. Rev. Lett. 8, 250 (1962).
  15. D. Larbalestier, A. Gurevich, D. Feldmann, and A. Polyanskii, Nature 414, 368 (2001).

Supplementary files

Supplementary Files
Action
1. JATS XML
Download

Copyright (c) 2024 Russian Academy of Sciences