Registration method of secondary electron spectra and experimental studies of the electronic structure of toms of steel X17AG18 and ZrC cermets

Cover Page

Cite item

Full Text

Open Access Open Access
Restricted Access Access granted
Restricted Access Subscription or Fee Access

Abstract

An overview of the use of electron spectroscopy for the study of the physico-chemical properties of solids is carried out. It is noted that the main source of information about the electronic states of atoms is the energy distribution of electrons excited by ions, X-ray quanta, and laser beams. The paper briefly discusses the problems that exist in registering the spectra of secondary electrons obtained by exciting the surface of samples with electrons of medium (1–20 keV) energies, and ways to solve these problems in order to increase the information content and accuracy of research results. A method for recording secondary electron spectra in an integral form using an Auger spectrometer is proposed, which allows to increase the energy resolution of the method. The possibilities of the method are demonstrated by the example of experimental studies of zirconium carbide and steel X17AG18.

About the authors

I. А. Shulepov

Institute of Strength Physics and Materials Science SB RAS

Email: larisa.b.botaeva@tusur.ru
Russian Federation, Tomsk

Е. S. Mirovaya

Institute of Strength Physics and Materials Science SB RAS

Email: larisa.b.botaeva@tusur.ru
Russian Federation, Tomsk

А. А. Neiman

Institute of Strength Physics and Materials Science SB RAS

Email: larisa.b.botaeva@tusur.ru
Russian Federation, Tomsk

S. P. Buyakova

Institute of Strength Physics and Materials Science SB RAS

Email: larisa.b.botaeva@tusur.ru
Russian Federation, Tomsk

L. B. Botaeva

Tomsk State University of Control Systems and Radioelectronics

Author for correspondence.
Email: larisa.b.botaeva@tusur.ru
Russian Federation, Tomsk

References

  1. Василевский А.С. Физика твердого тела. М.: Дрофа, 2010. 206 с.
  2. Панин В.Е., Сурикова Н.С., Смирнова А.С., Почивалов Ю.И. // Физическая мезомеханика. 2018. Т. 21. № 3. С. 12. https://www.doi.org/10.24411/1683-805X-2018-13002
  3. Кулькова С.Е., Валуйский Д.В., Смолин И.Ю. // Физика твердого тела. 2001. Т. 43. Вып. 4. С. 706.
  4. Mikhaylushkin A.S., Isaev E.I., Vekilov Yu.Kh., Simak S.I. // Physics of the solid state. 2003. V. 45 (12). P. 2213. https://www.doi.org/10.1134/1.1635487
  5. Лопатина О.В. Атомная и электронная структура систем Zr–He и Zr–He–H: первопринципные исследования: Дис. канд. физ.-мат. наук: 01.04.07. Томск: ТПУ, 2013. 115 с.
  6. Сеньковский Б.В., Усачев Д.Ю., Федоров А.В., Шеляков А.В., Адамчук В.К. // Физика твердого тела. 2012. Т. 54. Вып. 8. С. 1441.
  7. Сеньковский Б. В. Электронная энергетическая структура сплавов Ti–Ni и TiNi–Cu: Дис. канд. физ.-мат. наук: 01.04.07. Санкт-Петербург: СПбГУ, 2013. 125 с.
  8. Soldatov A.V., Kravtsova A.N., Fleet M.E., Harmer S.L. // J. Phys.: Condensed Matter. 2004. V. 16. № 41. P. 7545. https://www.doi.org/10.1088/0953-8984/16/41/031
  9. Шабанова И.Н., Теребова Н.С., Кормилец В.И. // Физика твердого тела. 2000. Т. 42. Вып. 7. С. 1161.
  10. Гаврилюк В.Г. // Известия РАН. Серия физическая. 2005. Т. 69. № 10. С. 1470.
  11. Simka W., Krzakała A., Kuna K., Korotin D.M., Kurmaev E.Z., Zhidkov I.S., Cholakh S.O., Dercz G., Michalska J., Suchanek K., Gorewoda T. // Electrochimica Acta. 2013. V. 96. P. 180. https://www.doi.org/10.1016/j.electacta.2013.02.102
  12. Ткаченко В.Г., Зауличный Я.В., Кондрашев А.И., Малка А.Н., Абрамов А.А. // Вісник Українського матеріалознавчого товариства. 2012. № 1(5). С. 72.
  13. Seah M.P. // J. Electron Spectroscopy and Related Phenomena. 1999. V. 100. Iss. 1–3. P. 55.
  14. Загоренко А.И., Запорожченко В.И. Изучение точности измерения интенсивности в электронной оже-спектроскопии. // Тезисы докладов VII Всесоюзного симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел, Звенигород. 1991. С. 107.
  15. Загоренко А.И., Запорожченко В.И., Бородянский С.Э., Абашкин Ю.Г. // Поверхность. 1991. № 3. С. 93.
  16. Применение электронной спектроскопии для анализа поверхности. Пер. с англ. / Ред. Шварц К.К. Рига: Знание, 1980. 315 с.
  17. Михайлов Г.М., Бородько Ю.Г. // Поверхность. 1982. № 2. С. 85.
  18. Бриггс Д., Сих Н.П. Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. М.: Мир, 1987. 598 с.
  19. Захватова М.В., Гильмутдинов Ф.3., Сурнин Д.В. // Физика металлов и металловедение. 2007. Т. 104, № 2. С. 166.
  20. Наркевич Н.А., Гальченко Н.К., Миронов Ю.П. // Физическая мезомеханика. 2004. № 6. С. 79.
  21. Программа моделирования и вычитания фона AAnalyzer. Электронный ресурс http://rdataa.com/aanalyzer/aanaManual-BO.htm.
  22. Citrin P.H. // Phys. Rev. Lett. 1973. V. 31. № 19. P. 1164.
  23. Yin L.I., Tsang T., Coyle G.J., Yin W., Adler I. // J. Vacuum Sci. Technol. 1983. V. 1. Iss. 2. P. 1000. https://www.doi.org/10.1116/1.572323
  24. Гребенников В.И., Кузнецовa Т.В. // Поверхность. Рентген., синхротр. и нейтрон. исслед. 2020. № 5. С. 68.
  25. Фелдман Л., Майер Д. Основы анализа поверхности и тонких пленок. Пер. с англ. М.: Мир, 1989.
  26. Laurence E. Davis, Noel C. MacDonald, Paul W. Palmberg, Gerald E. Riach, Roland E. Weber. Handbook of Auger Electron Spectroscopy. Physical Electronics. 1976. Р. 253.
  27. Шульга Ю.М., Рубцов В.И., Бородько Ю.Г. // Поверхность. 1987. № 8. С. 43-50.

Supplementary files

Supplementary Files
Action
1. JATS XML
Download

Copyright (c) 2024 Russian Academy of Sciences