Исследование модификации внутренней поверхности каналов полых полисульфоновых волокон при облучении их пучком электронов с энергией 10 кэВ
- Авторы: Мышеловка Л.В.1, Вохмянина К.А.1, Пятигор А.Д.1, Сотникова В.С.1,2, Кубанкина А.А.1, Новиков В.Ю.1, Григорьев Ю.В.3
- 
							Учреждения: 
							- Белгородский государственный национальный исследовательский университет (НИУ БелГУ)
- Белгородский Технологический Университет им. В.Г. Шухова (БГТУ)
- Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова ФНИЦ “Кристаллография и фотоника”
 
- Выпуск: № 3 (2023)
- Страницы: 5-10
- Раздел: Статьи
- URL: https://ruspoj.com/1028-0960/article/view/664588
- DOI: https://doi.org/10.31857/S1028096023030111
- EDN: https://elibrary.ru/LECRBR
- ID: 664588
Цитировать
Полный текст
 Открытый доступ
		                                Открытый доступ Доступ предоставлен
						Доступ предоставлен Доступ платный или только для подписчиков
		                                							Доступ платный или только для подписчиков
		                                					Аннотация
В работе представлены результаты спектрального анализа поверхности полисульфонового волокна (канала) после прохождения через него пучка электронов с энергией 10 кэВ. Настоящая работа является продолжением исследования зависимости количества электронов, прошедших без потери энергии через массив, сформированный из полых полисульфоновых волокон, от угла поворота массива по вертикальной оси. Данные анализа показали существенную модификацию внутренней поверхности канала после его облучения электронами. Выявлено, что при длительном облучении пучками заряженных частиц полисульфоновых трубок образуется темный налет на поверхностном слое канала, который может оказывать существенное влияние на пропускную и управляющую способности каналов в области управления заряженными частицами. Сравнение элементного состава поверхности волокна до и после скользящего взаимодействия с ней пучка электронов с энергией 10 кэВ выявило увеличение концентрации углерода в облученном волокне на 50 вес. % и на 40 вес. % увеличилось содержание кислорода. Количество серы не изменяется, сохраняется на уровне около 10 вес. % как в облученном, так и в необлученном образце.
Об авторах
Л. В. Мышеловка
Белгородский государственный национальный исследовательский университет (НИУ БелГУ)
							Автор, ответственный за переписку.
							Email: lareczn@gmail.com
				                					                																			                												                								Россия, 308015, Белгород						
К. А. Вохмянина
Белгородский государственный национальный исследовательский университет (НИУ БелГУ)
														Email: lareczn@gmail.com
				                					                																			                												                								Россия, 308015, Белгород						
А. Д. Пятигор
Белгородский государственный национальный исследовательский университет (НИУ БелГУ)
														Email: lareczn@gmail.com
				                					                																			                												                								Россия, 308015, Белгород						
В. С. Сотникова
Белгородский государственный национальный исследовательский университет (НИУ БелГУ); Белгородский Технологический Университет им. В.Г. Шухова (БГТУ)
														Email: lareczn@gmail.com
				                					                																			                												                								Россия, 308015, Белгород; Россия, 308012, Белгород						
А. А. Кубанкина
Белгородский государственный национальный исследовательский университет (НИУ БелГУ)
														Email: lareczn@gmail.com
				                					                																			                												                								Россия, 308015, Белгород						
В. Ю. Новиков
Белгородский государственный национальный исследовательский университет (НИУ БелГУ)
														Email: lareczn@gmail.com
				                					                																			                												                								Россия, 308015, Белгород						
Ю. В. Григорьев
Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова ФНИЦ “Кристаллография и фотоника”
														Email: lareczn@gmail.com
				                					                																			                												                								Россия, 119333, Москва						
Список литературы
- Stolterfoht N., Bremer J.H., Hoffmann V., Fink D., Hellhammer R., Petrov A., Sulik B. // Phys. Rev. Lett. 2002. V. 88. P. 133201. https://www.doi.org/10.1103/PhysRevLett.88.133201
- Ikeda T., Ikekame M., Hikima Y., Mori M., Kawamura S., Minowa T., Jin W.-G. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 2020. V. 470. P. 42. https://www.doi.org/10.1088/1742-6596/1412/24/242007
- Milosavljevic A., Vikor G., Pesic Z., Kolarz P., Sevic D., Marinkovic B., Matefi-Tempfli S., Matefi-Tempfli M., Piraux L. // Phys. Rev. A. 2007. V. 75. P. 030901. https://www.doi.org/10.1103/PhysRevA.75.03090
- Wang W., Qi D., Yu D., Zhang M., Ruan F., Chen J., Cai X. // J. Phys.: Conf. Series. 2009. V. 163. P. 012093. https://www.doi.org/10.1088/1742-6596/163/1/012093
- Gál G.A.B., Rajta I., Szilasi S.Z., Juhász Z., Biri S., Cserháti C., Csik A., Sulik B. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 2011. V. 269. P. 2322. https://www.doi.org/10.1016/j.nimb.2011.02.024
- Gruber E., Kowarik G., Ladinig F., Waclawek J.P., Schrempf D., Aumayr F. // Phys. Rev. A. 2012. V. 86. P. 062901. https://www.doi.org/10.1103/PhysRevA.86.062901
- Wickramarachchi S.J., Dassanayake B.S., Keerthisinghe D., Ikeda T., Tanis J.A. // Phys. Scr. 2013. V. 156. P. 014057. https://www.doi.org/10.1103/PhysRevA.94.022701
- Lemell Ch., Burgdörfer J., Aumayr F. // Progress Surf. Sci. 2013. V. 88. P. 237. https://www.doi.org/10.1016/j.progsurf.2013.06.001
- Dassanayake B.S., Bereczky R.J., Das S., Ayyad A., Tokesi K., Tanis J.A. // Phys. Rev. A. 2011. V. 83. P. 012707. https://www.doi.org/10.1103/PhysRevA.83.012707
- Dassanayake B.S., Das S., Bereczky R.J., Tokesi K., Tanis J.A. // Phys. Rev. A. 2010. V. 81. P. 020701. https://www.doi.org/10.1103/PhysRevA.81.020701
- Vokhmyanina K.A., Kubankin A.S., Kishin I.A., Nazhmudinov R.M., Kubankin Yu.S., Sotnikov A.V., Sotnikova V.S., Kolesnikov D.A. // J. Nano-Electronic Phys. 2018. V. 10. № 6. P. 06036. https://www.doi.org/10.21272/jnep.10(6).06036
- Das S., Dassanayake B.S., Winkworth M., Baran J.L., Stolterfoht N., Tanis J.A. // Phys. Rev. A. 2007. V. 76. P. 042716. https://www.doi.org/10.1103/PhysRevA.76.042716
- Petukhov V.P., Petukhov M.V. // J. Surf. Invest.: X-Ray, Synchrotron Neutron Tech. 2017. V. 11. № 5. P. 1056. https://www.doi.org/10.1134/S1027451017050330
- Nguyen H.-D., Wulfkühler J.-P., Heisig J., Tajmar M. // Sci. Rep. 2021. V. 11. P. 8345. https://www.doi.org/10.1038/s41598-021-87156-4
- Vokhmyanina K.A., Pokhil G.P., Zhukova P.N., Irribarra E., Kubankin A.S., Levina V.S., Nazhmudinov R.M., Oleinik A.N., Kishin I.A. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 2015. V. 355. P. 307. https://www.doi.org/10.1016/j.nimb.2015.02.068
- Vokhmyanina K.A., Zhukova P.N., Kubankin A.S., Kishchin I.A., Klyuev A.S., Nazhmudinov R.M., Oleinik A.N., Pokhil G.P. // J. Surf. Invest.: X-ray, Synchrotron Neutron Tech. 2015. V. 9. № 2. P. 286. https://www.doi.org/10.1134/S1027451015020196
- Vokhmyanina K.A., Kubankin A.S., Myshelovka L.V., Zhang H., Kaplii A.A., Sotnikova V.S., Zhukova M.A. // J. Instrumentation. 2020. V. 15. P. C04003. https://www.doi.org/10.1088/1748-0221/15/04/C04003
- Juhász Z., Sulik B., Biri S., Tıkési K., Bereczky R.J., Rácz R., Kövér Á., Pálinkás J., Stolterfoht N. // J. Phys.: Conf. Series. 2012. V. 388. P. 132007. https://www.doi.org/10.1088/1742-6596/388/13/132007
- Vokhmyanina K.A., Kubankin A.S., Kishin I.A., Nazhmudinov R.M., Kubankin Yu.S., Sotnikov A.V., Sotnikova V.S., Kolesnikov D.A. // J. Nano-Electronic Phys. 2018. V. 10. № 6. P. 06036. https://www.doi.org/10.21272/jnep.10(6).06036
- Vokhmyanina K.A., Myshelovka L.V., Kolesnikov D.A., Sotnikovaa V.S., Kaplii A.A., Kubankin A.S., Zhukova P.N., Ionidi V.Yu. // Tech. Phys. Lett. 2021. V. 47. № 1. P. 31. https://www.doi.org/10.1134/S1063785021080289
Дополнительные файлы
 
				
			 
						 
						 
						 
					 
						 
									

 
  
  
  Отправить статью по E-mail
			Отправить статью по E-mail 







